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BeamPeek?系統

更新時間:2025-03-13

瀏覽量:1900

品牌：OPHIR
型號：BeamPeek
描述：BeamPeek? 系統允許同時對增材制造 (AM) 激光器進行光束分析、焦斑大小和位置以及功率測量。它跟蹤這些參數如何隨時間變化，以幫助維持制造零件的質量和可重復性。...
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產品介紹

BeamPeek?系統的功能特性：

用戶手冊

BeamPeek? 集成了激光光束分析儀相機、功率計、光束收集器、分束器和光學器件，為工業環境中的增材制造激光分析提供了一個全面的解決方案。

焦點尺寸
校準焦點位置以構建平面
激光功率
激光功率密度
光斑大小和功率隨時間的變化

BeamPeek 允許在 1kW 的情況下使用被動冷卻進行長達 2 分鐘的連續測量，無需風扇或通過射束收集器可互換盒進行水/空氣冷卻。其工業設計使其易于集成到生產線中并在不干擾生產過程的情況下執行激光特性分析。

BeamPeek?系統圖紙：

BeamPeek?系統規格：

Beam Profiling
波長	532nm, 1030-1080nm
最小-最大焦點尺寸	34.5μm - 2mm
功率范圍	10 - 1000 瓦
焦距	150mm-800mm
焦點位置已校準	±100μm
光束分析	ISO 11146 測量
功率計	NIST 溯源校準 ±3%
遵守	CE、UKCA、中國 RoHS

BeamPeek?系統 FAQ

BP 是否需要定期校準？
是的，因為 BeamPeek 包括 Ophir 常規功率計。

相機傳感器/焦平面位于何處？
與具有焦平面設置的 BeamCheck 不同，當激光焦點位于床表面時，相機傳感器處于對焦狀態，BeamPeek 相機傳感器在底座/機器床上大約 75 毫米（精確值針對每個設備單獨校準） . 為了使光束聚焦在相機傳感器上，床身必須向下移動校準值。這種設置的原因是改進了功率處理：更高的功率和更長的高功率曝光時間。